Navigationshilfe

 

Hauptnavigation

Seiteninhalt


* Information für Benutzer


Startseite REM   -   Konfiguration   -   Probenpräparation   -   Publikationen   -   Information für Benutzer


Das Rasterelektronenmikroskop JSM 6490 am Institut für Geowissenschaften in Frankfurt bietet aufgrund seiner besonderen Zusatzausstattung mit einem energiedispersiven Detektor (EDS), zwei Kathodolumineszenz-Detektoren (CL in Graustufen und Farbe) und einer EBSD-Einrichtung (electron backscatter diffraction) folgende Untersuchungsmöglichkeiten:

  • Oberflächenabbildung: Elektronenbilder mit Auflösung bis zu 2,5 nm (LaB6-Kathode; SE/BSE)
  • Oberflächenabbildung der Kathodolumineszenz (in Farbe und in Graustufen)
  • qualitative und quantitative Elementanalyse ab Kohlenstoff bis Uran (EDS) im Mikrometerbereich
  • Herstellung von Elementverteilungsbildern (EDS)
  • Bestimmung von Kristallorientierungen und Vorzugsorientierungen in polykristallinem Material (EBSD)

Vorteile:

  • Zerstörungsfreie Analyse
  • In-situ Analyse kleinster Probenmengen
  • Es sind (fast) alle festen Stoffe geeignet zur Untersuchung im REM, sofern sie im Elektronenstrahl und im Hochvakuum stabil sind.

Probenvorbereitung

  • Beliebig geformte Proben, unbearbeitet und unzerkleinert bis zu einem Durchmesser von max. 200 mm.
  • Für besondere Untersuchungen, z.B. der Kathodolumineszenz: hochglanzpolierte Dünn- oder Anschliffe, wie sie routinemäßig für die Elektronenstrahlmikrosonde hergestellt werden.
  • Für EBSD: Oberflächenpräparation nach Möglichkeit ohne mechanische Bearbeitung. Dazu steht ein Gerät, das mit einem Argon-Ionenstrahl arbeitet, zur Verfügung (cross section polisher).
  • Die Probenoberflächen müssen in jedem Fall elektrisch leitend sein, d.h. vorher meist bedampft werden (z.B. mit C oder Au).

Wie bekomme ich Messzeit?

Hinsichtlich Fragen zu Messzeit und deren Kosten wenden Sie sich bitte an die untenstehende Kontaktperson.


Selbständiges Messen

Für Bachelor-/Masterarbeiten ist die Voraussetzung für selbständiges Messen die erfolgreiche Teilnahme an der Bachelorveranstaltung "Materialanalytische Methoden" oder an einem REM- oder Mikrosondenkurs (in Frankfurt: "Mikroanalytik I"). Für EBSD ist zusätzlich die Teilnahme an einem EBSD-Kurs Voraussetzung. Auswärtige Gäste werden bei entsprechender Vorbildung einzeln am Gerät eingewiesen.


Service-Analysen

Service-Analysen inkl. Präparation und Auswertung werden nach Absprache ebenfalls von uns durchgeführt.


Kontakt

Dr. Heidi Höfer
Tel. ++49(0)69-798-40122
eMail: eMail


Startseite REM   -   Konfiguration   -   Probenpräparation   -   Publikationen   -   Information für Benutzer


 

geändert am 01. Februar 2010  E-Mail: Webmasterkautz@kristall.uni-frankfurt.de

|

| Zur Navigationshilfe
empty

Seitenabschlussleiste


Druckversion: 01. Februar 2010, 14:01
http://www.uni-frankfurt.de/fb/fb11/ifg/ausstattung/rem/information/index.html