Rasterelektronenmikroskop (REM)

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Rasterelektronenmikroskop im Institut für Geowissenschaften

Das Rasterelektronenmikroskop JSM 6490 der Firma Jeol wurde 2006 am Frankfurter Institut für Geowissenschaften installiert und wird unter der Leitung von Frau Dr. Höfer gemeinsam von den Abteilungen Geologie, Mineralogie und Paläontologie betrieben. Das Gerät bietet neben den Verfahren eines Rasterelektronenmikroskops zur Oberflächenabbildung mit Sekundär- bzw. Rückstreuelektronen folgende weitere Untersuchungsmöglichkeiten:

Kathodolumineszenzbilder in Farbe oder Graustufen

chemische qualitative und quantitative Analytik mit EDS

EBSD (electron backscatter diffraction) zur Analyse der
   Mikrostruktur und Orientierung z. B. von deformierten Kristallen
   in einer  polykristallinen Matrix (Gestein oder Werkstoff)

Labortelefon

++49(0)69-798-40283